奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
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反射率測定光路圖 |
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反射率測定例：鏡片 |
反射率測定例：鏡片周邊部位 |
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測定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。 |
膜厚測定的圖例 |
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測定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關數(shù)值。 |
物體色的測定圖例 |
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測定透過率 (選配)
從受臺下部透過?2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。 |
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透過率測定光路圖 |
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測定入射角為45度的反射率（選配）
從側(cè)面向45度面反射?2mm的平行光，測定其反射率。 |
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45度反射率測定光路圖 |
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域的高精度&高速測定 |
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實現(xiàn)高速測定
使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。 |
光學系圖 |
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十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率
新設計了可以在?17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。 |
反射率測定圖例 |
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測定反射率時，不需要背面防反射處理
將專用物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定最薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定。 |
消除背面反射光的原理 |
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可選擇的膜厚測定方法
根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析?？梢愿鶕?jù)用途選擇最佳的測定方法。 |
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峰谷法
這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置，可以簡單地求出。 |
峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例 |
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曲線調(diào)整法
這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構造計算的反射率的差達到最小的構造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。 |
曲線調(diào)整法膜厚解析經(jīng)過信息圖例 |
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多樣化應用 |
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高速、高精度地應對多樣化測定需求。 |
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通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。
數(shù)碼相機鏡片
投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片 |
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適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。
LED包裝
半導體基板 |
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適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。
液晶彩色濾鏡
光學薄膜 |
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適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。
棱鏡
反射鏡 |
