MSP-100B-W鏡片反射率測定儀

MSP-100B-W近紅外顯微分光測定儀

從350nm~1700nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)

 

MSP-100B-W鏡片反射率測定儀可測量當(dāng)前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。

MSP-100B-W近紅外顯微分光測定儀的特點：

◆消除背面反射光
MSP-100B-W系列近紅外鏡片反射率測定儀可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

◆測量CCD采用高靈敏度傳感器
可見采用了背照式CCD傳感器，有較高的靈敏度和信噪比
紅外采用了InGaAs傳感器，對紅外有較高的靈敏度